20-21 November 2012 | Sentra Teknologi Polimer – BPPT, Kawasan PUSPIPTEK Serpong
Nanoteknologi adalah studi tentang penguasaan materi pada skala atom dan molekul. Umumnya nanoteknologi berkaitan dengan setidaknya satu dimensi dari struktural material berukuran antara 1-100 nanometer dan melibatkan advanced material atau peralatan uji dan anlisa untuk struktur ukuran tersebut. Ada banyak pembahasan mengenai implikasi masa depan nanoteknologi. karena potensinya untuk membuat bahan baru termasuk didalamnya material polimer dan perangkat dengan berbagai macam aplikasi, seperti di kedokteran, biomaterial elektronik dan produksi energi.
Pada tingkat organisasi penelitian, berhasilnya suatu program riset antara lain dengan mempersiapkan peneliti untuk mencapai tingkat yang lebih tinggi melalui pelatihan yang sesuai dengan program yang akan dikembangkan dalam hal ini pengembangan riset dibidang nanoteknologi. Pelatihan analisa morfologi material dengan alat Atomic Force Microscope(AFM) diselenggarakan untuk mempersiapkan personil memahami desain dan penggunaan AFM, bagaimana penggunakannya, data apa yang dapat dihasilkan, dan apa yang dapat dilakukan dengan data.
Apa yang akan didapatkan peserta:
- Peserta memahami prinsip dan sifat dasar karakterisasi
- Peserta memahami metoda preparasi
- Peserta memahami prosedur kerja karakterisasi
- Peserta memahami analisa hasil karakterisasi
- Peserta mengenal beberapa aplikasi terkini karakterisasi
Pelatihan:
- Dirancang untuk meningkatkan kemampuan tentang karakterisasi dan analisa berbasis AFM
- Dibawakan oleh tenaga ahli dibidang morfologi material dari Sentra Teknologi Polimer BPPT
Investasi:
- Rp. 2.250.000,- (Setelah tanggal 7 November 2012)
- Rp. 2.000.000,- (Sampai tanggal 7 November 2012)
- Peneliti PUSPIPTEK Gratis (Syarat & Ketentuan Berlaku)
Promo:
- Discount Akademisi: Rp. 200.000,- (Mahasiswa, Dosen, Litbang kementrian/LPNK)
- Cash back: Rp. 150.000,- (Jika mendaftar lebih dari 3 peserta atau MNI Member Aktif)
Informasi lengkap klik di sini
Tidak ada komentar:
Posting Komentar